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超大规模集成电路测试系统

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超大规模集成电路测试系统

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制造厂商: 泰瑞达 仪器编码: G-S-262 生产国别: 美国 分类编码: 040503 购置日期: 2011-03-31 规格型号: UltraFLEX
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详细信息与指标

功能/应用范围 用于测试高性能微处理器、芯片组、图像处理器、硬盘驱动器、视频游戏设备、SoC、SiP、存储器、基带、网络和宽带等芯片
主要附件 Pogo tower
主要技术指标 射频载波频率:12GHz,通讯协议:GSM/GPRS、EDGE、WCDMA、CDMA ONE (IS95)、CDMA2000、Bluetooth、ZigBee、802.11a/b/g/n、 WiMax-e、FM等;8对6.4Gbps高速接口;1024个测试频率1Gbps高速数字测试通道
技术特色 UltraFle有优良的高速数字性能和提供高精度模拟信号、以及多管脚多并行测试,可测试的产品应用覆盖从射频 RF、电源管理器和汽车设备到无线手机和计算机图像工具到视频游戏和光驱,到高清晰电视(HDTV)和局域网设备等,可以满足CMOS RF,数字音视频,信息安全SOC,现场可编程器件,高端通用器件,SIP等产品的测试要求
服务实例

服务信息

  • 上年对外服务(机时):4403小时
  • 接待时间(工作日):9:00-17:00
  • 收费标准(元/样品):1200元/小时
  • 仪器联系人:王锦
  • 联系电话:021-50271583
  • 电子邮箱:wjhl@sinoctest.com.cn
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