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超大规模集成电路测试系统

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超大规模集成电路测试系统

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制造厂商: 泰瑞达 仪器编码: G-S-139 生产国别: 美国 分类编码: 040503 购置日期: 2010-05-30 规格型号: J750EX
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详细信息与指标

功能/应用范围 用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品,覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。
主要附件 MSO、CTO、MTO
主要技术指标 数字板:测试通道1024,测试频率200MHz; PPMU:-2~7V,0-2mA; BPMU:-24~24V,0-200mA; DPS:0-10V,0-1A;
技术特色 J750EX主要用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等复杂度较高的产品,高达1024pin的测试通道,满足集成度高、测试引脚多的产品要求,可以开发并行测试,极大的提高测试效率,降低测试成本,上海华岭具备强大的程序开发和硬件设计能力,满足客户从测试开发、分析、验证、优化、量产测试的整体测试解决方案。
服务实例

服务信息

  • 上年对外服务(机时):4403小时
  • 接待时间(工作日):9:00-17:00
  • 收费标准(元/样品):600元/小时
  • 仪器联系人:王锦
  • 联系电话:021-50271583
  • 电子邮箱:wjhl@sinoctest.com.cn
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